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该非接触式磁阻测量原理可通过磁极距为1mm磁尺进行高精密增量位移测量。 磁尺和读取头之间的间隙可达 0.4 mm。ED34 配有内置正弦/余弦插值单元,支持将可靠的位移信息转换成 A/B 方波输出。小尺寸的外壳可集成到需要位移反馈的机械装置中。非接触式 AMR 技术适合于灰尘或油污等污染物不会影响测量的严苛环境中的应用。
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