配置产品并获取产品报价

概述

该非接触式磁阻测量原理可通过磁极距为1mm磁尺进行高精密增量位移测量。 磁尺和读取头之间的间隙可达 0.4 mm。ED34 配有内置正弦/余弦插值单元,支持将可靠的位移信息转换成 A/B 方波输出。小尺寸的外壳可集成到需要位移反馈的机械装置中。非接触式 AMR 技术适合于灰尘或油污等污染物不会影响测量的严苛环境中的应用。

特点

  • 高分辨率
  • 高精度
  • 适用于在严苛环境中进行线性测量的非接触式磁性编码器
  • 小尺寸外壳
  • 在电极间距为 1 mm 的磁化量程下工作
  • 分辨率:5 µm
  • 温度范围: -20°C 至 +70°C

特性

请查看产品文档或联系我们以了解最新的机构审批信息。 

产品类型特性

  • 产品类型  线性增量编码器

结构特性

  • 电气连接  4 针连接器, 4 针连接器

  • 接口  正交

电气特征

  • 输入电压 (VDC) 4.5 – 5.5

  • 输出电平(高) (VDC) 5

  • 输出电平(低) (VDC) 0

主体特性

  • 外壳材料 

  • 重量 (g) 70

  • 外壳设计  IP52

使用环境

  • 工作温度 -20 – 70 °C [ -4 – 158 °F ]

操作/应用

  • 脉冲频率 (kHz) 50

包装特性

  • 封装  20 x 10 x 8 mm

相关资料

目录页/数据表

条款和条件

在使用此数据前,请仔细阅读免责声明。
您使用此数据即表示您接受下文规定的条款和条件。如果您不同意这些使用条款,请单击“我不同意”链接。

免责声明:
此信息供您免费使用,但仍为 TE Connectivity Corporation(“TE”)的独有财产。虽然 TE 已做出合理努力确保信息的准确性,但 TE 不保证其没有错误,也不做任何其他声明、担保或保证来说明这些信息完全准确或处于最新状态。在许多情况下,CAD 数据已经过简化,删除了专有详细信息,同时保留了重要界面几何细节供客户使用。TE 明确拒绝有关此信息的所有默示保证,包括但不限于任何默示的担保或适销性或适用于特定用途。